各種トランジスタのダイオード特性

冬のオリンピックで、かなり感動した!
今まで測定してきた各種トランジスタの中から、汎用に近い、コンプリメンタリ-と呼ばれる品種のベースエミッタ間のダイオード特性を、グラフにしてみました。
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トランジスタのベース領域の構造によって、特性の殆どが決まります。コンプリと宣言しているトランジスタペアは、ベースの構造が良く似ています。従って、静特を測定しても、殆ど同じように見えます。

もっとも、P型とN型の、移動度の違いがあるので、まったく同じにはできません。それでも、結構頑張って揃えているようです。
ところで、バイポーラトランジスタの熱暴走を防止する為に、ダイオードや、トランジスタを熱結合して使いますが、全く異なる特性のダイオードの温度特性で補償しても、実験してみると、補償不足になったりします。結局、エミッタに抵抗を入れて、電流帰還でマージンを稼ぐ事になります。

電流帰還にも、負荷の影響を軽減するような、他の利点もあるので、無駄ではないのですが、ドライブや、電圧利用率を考えると、似たようなトランジスタを熱結合するのが、良いのかもしれません。

量産を考えないので、ケチケチせずに、奢った設計も良いと思います。(形状も同じなので、「ねじ」で共締めできますし)

グラフを見て、古い設計のトランジスタ(2SC4408や2SD2012等)は、1uA以下の領域で、再結合電流が観測できています。コレクタ電流を大目に流したいとか、コレクタの耐圧を上げたいとか、ちょっとした、工夫があるようです。
2SC5200シリーズ(2SC5242)等は、素直な設計で、使っていても、使いやすいトランジスタです。
それを考えると、2SC1815も素直で、使いやすいと言えますが・・

おわり

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